الرئيسية › دليل الباحثين › Michel Brunel
Michel Brunel
الانتماء : Centre National de la Recherche Scientifique · Cadi Ayyad University
- 19منشورات (انتماء فرنسي)
- 196مجموع المنشورات
- 3028الاستشهادات
- 29مؤشر h
الملف البحثي
لدى Michel Brunel 19 منشور(ات) مفهرسة (1989–2011). تُنشر أعماله أساسًا في «Solar Energy Materials and Solar Cells»، «Thin Solid Films» و«Applied Surface Science». أكثر مقالاته استشهادًا هو «Iron pyrite films prepared by sulfur vapor transport» (1996)، وقد استُشهد به 37 مرة. شارك في تأليف أعماله 4 باحثًا على الأقل، منهم باحثون من مؤسسات في المغرب.
هل هذا أنت؟ عرّف بأبحاثك
أنشئ ملفك على DzCademia مجانًا وأضف مقالاتك: ستظهر بسهولة أكبر على Google وفي مساعدي الذكاء الاصطناعي مثل ChatGPT، فيقرؤها ويستشهد بها عدد أكبر من الناس.
إنشاء ملفي المجاني إضافة منشوراتيمجالات البحث
- Semiconductor materials and interfaces
- X-ray Diffraction in Crystallography
- Semiconductor materials and devices
- Magnetic properties of thin films
- Ion-surface interactions and analysis
المنشورات (19)
- Surface structural analysis using grazing incidence x-ray reflectometry
- Preparation and characterization of CdTeO3 thin films
- Optical properties of oxygenated amorphous cadmium telluride thin films
- Interaction of oxygen with (Er + Si): formation of erbium pyrosilicate Er2Si2O7
- Characterization of Te/Zn/Te … multilayers deposited by RF-sputtering
- Structural properties of oxygenated amorphous cadmium telluride thin films
- Iron pyrite films prepared by sulfur vapor transport
- Some annealing effects on r.f. sputtered Cu/Te/CdTe structure
- Effect of the substrate nature on the structural properties of Cu/Te bi-layers prepared by rf-sputtering
- The formation of sputtered Ta/a-Si and a-Si/Ta interfaces in a-Si/Ta/a-Si/c-Si structure
- Structural and electrical properties of RF sputtered Cu/Te/CdTe contact
- Physical and chemical analysis of RF sputtered Cu/Te/CdTe structures
- On the formation of erbium silicide in a-Si/Er/a-Si/c-Si structures
- Structural and chemical analysis of all sputtered a-Si/a-C multilayers
- Structural and chemical analysis of C : H,O /Si : H,O multilayers deposited by reactive RF sputtering
- On the formation of molybdenum silicides in MoSi multilayers: the effect of Mo thickness and annealing temperature
- A physico-chemical study of all-sputtered Al/CdS interfaces
- Grazing-incidence X-ray diffraction study of all-sputtered Al/CdS and CdS/Al interfaces
- rf-sputtered tungsten-amorphous silicon Schottky barrier diodes
مجلات النشر
- Solar Energy Materials and Solar Cells × 6
- Thin Solid Films × 4
- Applied Surface Science × 4
- PRSM × 1
- Materials Science and Engineering B × 1
- physica status solidi (a) × 1
المنشورات حسب السنة
- 20111
- 20001
- 19974
- 19963
- 19951
- 19941
- 19934
- 19922
- 19911
- 19891
التعاون العلمي
بلدان المؤلفين المشاركين : المغرب
المؤلفون المشاركون
البيانات البيبليوغرافية مصدرها OpenAlex (قاعدة مفتوحة).
لماذا تختارون Dzcademia؟
ملفات أكاديمية ومقالات ومداخلات علمية: امنحوا أبحاثكم حضوراً عاماً منظماً. تساعد البيانات الوصفية المدمجة محركات البحث ومساعدات الذكاء الاصطناعي على التعرف على أعمالكم وفهم مراجعها.
علّق عبر Google
سجّل الدخول عبر Google للتعليق مباشرة على هذه الصفحة.