الرئيسية › دليل الباحثين › B. Cretu
B. Cretu
الانتماء : Centre National de la Recherche Scientifique · École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen · Normandie Université · GREYC · Université de Caen Normandie
- 18منشورات (انتماء فرنسي)
- 120مجموع المنشورات
- 883الاستشهادات
- 16مؤشر h
الملف البحثي
لدى B. Cretu 18 منشور(ات) مفهرسة (2011–2018). تُنشر أعماله أساسًا في «Solid-State Electronics»، «HAL» و«International Conference on Noise and Fluctuations». أكثر مقالاته استشهادًا هو «Low frequency noise characterization in n-channel FinFETs» (2011)، وقد استُشهد به 35 مرة. 5 من هذه المنشورات تعود إلى آخر ثلاث سنوات من النشاط. شارك في تأليف أعماله 9 باحثًا على الأقل، منهم باحثون من مؤسسات في الجزائر، تونس.
هل هذا أنت؟ عرّف بأبحاثك
أنشئ ملفك على DzCademia مجانًا وأضف مقالاتك: ستظهر بسهولة أكبر على Google وفي مساعدي الذكاء الاصطناعي مثل ChatGPT، فيقرؤها ويستشهد بها عدد أكبر من الناس.
إنشاء ملفي المجاني إضافة منشوراتيمجالات البحث
- Semiconductor materials and devices
- Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
- Low-power high-performance VLSI design
- Semiconductor materials and interfaces
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
المنشورات (18)
- Low-frequency noise measurements at liquid helium temperature operation in ultra-thin buried oxide transistors – Physical interpretation of transport phenomena
- Impact of channel orientation on low frequency noise performances of UTBOX nMOSFETs operated at liquid nitrogen temperature
- Impact of cryogenic temperature operation on static and low frequency noise behaviors of FD UTBOX nMOSFETs
- Static and low frequency noise characterization of n-channel 16 nm UTBOX devices
- Static and low frequency noise characterization of n-channel 16 nm UTBOX devices
- Identification of Si film traps in p-channel SOI FinFETs using low temperature noise spectroscopy
- In depth static and low-frequency noise characterization of n-channel FinFETs on SOI substrates at cryogenic temperature
- Performances under saturation operation of p-channel FinFETs on SOI substrates at cryogenic temperature
- Low temperature noise spectroscopy of p-channel SOI FinFETs
- DC and low frequency noise performances of SOI p-FinFETs at very low temperature
- Detailled characterisation of SOI n-FinFETs at very low temperature
- DC and noise performances of SOI FinFETs at very low temperature
- Low frequency noise characterization in n-channel FinFETs
- Low frequency noise characterization in n-channel FinFETs
- Uncertainties in the estimation of low frequency noise level extracted from noise spectral density measurements
- Assessment of temperature dependence of the low frequency noise in unstrained and strained FinFETs
- Low Frequency Noise Spectroscopy in Advanced nFinFETS
- Assessment of temperature dependence of the low frequency noise in unstrained and strained FinF
مجلات النشر
- Solid-State Electronics × 5
- HAL × 5
- International Conference on Noise and Fluctuations × 3
- Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon × 2
- International Conference on Information and Digital Technologies (IDT) × 1
- International Conference on Sciences of Electronics, Technologies of Information and Telecommunications × 1
المنشورات حسب السنة
- 20181
- 20173
- 20161
- 20151
- 20143
- 20132
- 20122
- 20115
التعاون العلمي
المؤسسات الشريكة : Mouloud Mammeri University of Tizi-Ouzou · University of Carthage · National Institute of Applied Science and Technology
بلدان المؤلفين المشاركين : الجزائر · تونس
المؤلفون المشاركون
- R. Carin
- Jean‐Marc Routoure
- Hakim Achour
- Rachida Talmat
- B. Nafaa
- Sheng Wu
- Bruno Guillet
- Abdelkarim Mercha
- Eric Sassier
البيانات البيبليوغرافية مصدرها OpenAlex (قاعدة مفتوحة).
لماذا تختارون Dzcademia؟
ملفات أكاديمية ومقالات ومداخلات علمية: امنحوا أبحاثكم حضوراً عاماً منظماً. تساعد البيانات الوصفية المدمجة محركات البحث ومساعدات الذكاء الاصطناعي على التعرف على أعمالكم وفهم مراجعها.
علّق عبر Google
سجّل الدخول عبر Google للتعليق مباشرة على هذه الصفحة.