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Ahlem Lebbad

Affiliation : University Ferhat Abbas of Setif

• 2Publications (affiliation algérienne)
• 4Publications au total
• 13Citations
• 1Indice h

OpenAlex

Profil de recherche

Ahlem Lebbad compte 2 publications référencées (2018). Ses travaux paraissent principalement dans « Bulletin of Materials Science » et « International Conference on Materials Science ICMS2018 ». Son article le plus cité, « Surface morphology, structural and electrical properties of RF-sputtered ITO thin films on Si substrates » (2018), a été cité 13 fois. Ses travaux sont cosignés avec au moins 2 chercheurs.

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Domaines de recherche

• ZnO doping and properties
• Thin-Film Transistor Technologies
• Advanced Materials and Semiconductor Technologies
• Metal and Thin Film Mechanics
• Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications

Publications (2)

• Surface morphology, structural and electrical properties of RF-sputtered ITO thin films on Si substrates
  2018 · Bulletin of Materials Science · cité 13 fois
• Annealing effect on structural and electrical properties of Al-doped ZnO thin films prepared by sol gel method
  2018 · International Conference on Materials Science ICMS2018

Revues de publication

• Bulletin of Materials Science × 1
• International Conference on Materials Science ICMS2018 × 1

Co-auteurs

• A. Layadi
• L. Kerkache

Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).