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M. Kachouane
Affiliation : University of Sciences and Technology Houari Boumediene
- 2Publications (affiliation algérienne)
- 2Publications au total
- 1Citations
- 1Indice h
Profil de recherche
M. Kachouane compte 2 publications référencées (2002–2003). Ses travaux paraissent dans « IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) ». Son article le plus cité, « Channel length impact on radiation-induced threshold voltage shift in N-MOSFET devices at low gamma rays radiation doses » (2003), a été cité 1 fois. Ses travaux sont cosignés avec au moins 3 chercheurs.
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- Semiconductor materials and devices
- Radiation Effects in Electronics
- Particle Detector Development and Performance
Publications (2)
- Channel length impact on radiation-induced threshold voltage shift in N-MOSFET devices at low gamma rays radiation doses
- Electrical characterization of oxide and Si/SiO/sub 2/ interface of irradiated NMOS transistors at low radiation doses
Publications par année
- 20031
- 20021
Collaborations
Établissements partenaires : Centre de Développement des Technologies Avancées
Co-auteurs
Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).
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