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T. Dufar

Affiliation : Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés

2Publications (affiliation française)
3Publications au total
22Citations
1Indice h

Profil de recherche

T. Dufar compte 2 publications référencées (2019). Ses travaux paraissent principalement dans « CrystEngComm » et « HAL ». Son article le plus cité, « Czochralski crystal growth and characterization of large langatate (La 3 Ga 5.5 Ta 0.5 O 14 , LGT) crystals for SAW applications » (2019), a été cité 22 fois. Ses travaux sont cosignés avec au moins 12 chercheurs, notamment dans des établissements de Taïwan.

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Domaines de recherche

Ferroelectric and Piezoelectric Materials
Acoustic Wave Resonator Technologies
Microwave Dielectric Ceramics Synthesis
Chalcogenide Semiconductor Thin Films
Solidification and crystal growth phenomena

Publications (2)

Czochralski crystal growth and characterization of large langatate (La 3 Ga 5.5 Ta 0.5 O 14 , LGT) crystals for SAW applications
2019 · CrystEngComm · cité 22 fois
Czochralski crystal growth and characterization of large Langatate (La3Ga5.5Ta0.5O14, LGT) crystals for SAW application
2019 · HAL

Revues de publication

CrystEngComm × 1
HAL × 1

Collaborations

Établissements partenaires : Centre National de la Recherche Scientifique · Franche-Comté Électronique Mécanique Thermique et Optique - Sciences et Technologies · Université de Lyon · Institut Lumière Matière · Lumtec (Taiwan)

Pays des co-auteurs : Taïwan

Co-auteurs

Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).