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K. Khenfer
Affiliation : University of Sciences and Technology Houari Boumediene
- 3Publications (affiliation algérienne)
- 5Publications au total
- 7Citations
- 1Indice h
Profil de recherche
K. Khenfer compte 3 publications référencées (2010–2020). Ses travaux paraissent principalement dans « Defect and diffusion forum/Diffusion and defect data, solid state data. Part A, Defect and diffusion forum » et « Journal of Physics Conference Series ». Son article le plus cité, « Electrical characterization of nitride silicon layers SiN:x enriched in silicon at different stoichiometry - photovoltaic application » (2020), a été cité 7 fois. Ses travaux sont cosignés avec au moins 4 chercheurs, notamment dans des établissements de Russie.
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- Silicon and Solar Cell Technologies
- Semiconductor materials and interfaces
- Luminescence Properties of Advanced Materials
- Nanofluid Flow and Heat Transfer
- Semiconductor materials and devices
Publications (3)
- Electrical characterization of nitride silicon layers SiN:x enriched in silicon at different stoichiometry - photovoltaic application
- Characterization of Nickel Based Alloys (Hard Facing Alloys) with Additions of Ti and Mo
- Thermosolutal Convection in a Partly Multi-Layred Porous Annular Cavity
Revues de publication
- Defect and diffusion forum/Diffusion and defect data, solid state data. Part A, Defect and diffusion forum × 2
- Journal of Physics Conference Series × 1
Publications par année
- 20201
- 20111
- 20101
Collaborations
Établissements partenaires : Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University
Pays des co-auteurs : Russie
Co-auteurs
Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).
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