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T. A. Lafford

Affiliation : Bruker (United States)

• 1Publications (affiliation américaine)
• 42Publications au total
• 921Citations
• 16Indice h

OpenAlex

Profil de recherche

T. A. Lafford compte 1 publication référencée (2025). Ses travaux paraissent dans « Crystals ». Son article le plus cité, « Mosaic Structure of GaN Film Grown on Sapphire Substrate by AP-MOCVD: Impact of Thermal Annealing on the Tilt and Twist Angles » (2025), a été cité 5 fois.

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Domaines de recherche

• X-ray Diffraction in Crystallography
• Solidification and crystal growth phenomena
• GaN-based semiconductor devices and materials
• Metal and Thin Film Mechanics
• Metallurgical Processes and Thermodynamics

Publications (1)

• Mosaic Structure of GaN Film Grown on Sapphire Substrate by AP-MOCVD: Impact of Thermal Annealing on the Tilt and Twist Angles
  2025 · Crystals · cité 5 fois

Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).