الرئيسية › دليل الباحثين › Olivier Occello

Olivier Occello

الانتماء : Centre National de la Recherche Scientifique · Université de Montpellier · Institut d'Électronique et des Systèmes

• 2منشورات (انتماء فرنسي)
• 15مجموع المنشورات
• 29الاستشهادات
• 3مؤشر h

ORCIDOpenAlex

الملف البحثي

لدى Olivier Occello 2 منشور(ات) مفهرسة (2026). تُنشر أعماله أساسًا في «Fluctuation and Noise Letters» و«Microelectronics Reliability». أكثر مقالاته استشهادًا هو «X-Ray Impact on Generation-Recombination Low-Frequency Noise Components for Advanced Si/SiGe:C HBTs» (2026)، وقد استُشهد به 1 مرة. شارك في تأليف أعماله 10 باحثًا على الأقل، منهم باحثون من مؤسسات في الجزائر.

هل هذا أنت؟ عرّف بأبحاثك

أنشئ ملفك على DzCademia مجانًا وأضف مقالاتك: ستظهر بسهولة أكبر على Google وفي مساعدي الذكاء الاصطناعي مثل ChatGPT، فيقرؤها ويستشهد بها عدد أكبر من الناس.

إنشاء ملفي المجاني إضافة منشوراتي

مجالات البحث

• Radio Frequency Integrated Circuit Design
• Microwave Engineering and Waveguides
• Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
• Analog and Mixed-Signal Circuit Design
• VLSI and Analog Circuit Testing

المنشورات (2)

• X-Ray Impact on Generation-Recombination Low-Frequency Noise Components for Advanced Si/SiGe:C HBTs
  2026 · Fluctuation and Noise Letters · استُشهد به 1 مرة
• Study of electrical and X-ray induced degradation in 55-nm BiCMOS SiGe heterojunction bipolar transistors
  2026 · Microelectronics Reliability

مجلات النشر

• Fluctuation and Noise Letters × 1
• Microelectronics Reliability × 1

التعاون العلمي

المؤسسات الشريكة : STMicroelectronics (France) · Larbi Ben M'hidi University of Oum El Bouaghi

بلدان المؤلفين المشاركين : الجزائر

المؤلفون المشاركون

• F. Pascal
• Daniel Gloria
• B. Sagnes
• A. Hoffmann
• J. Boch
• Pascal Chevalier
• Tadec Maraine
• M. Bouhouche
• A. Adebabay Belie
• S. Haendler

البيانات البيبليوغرافية مصدرها OpenAlex (قاعدة مفتوحة).