الرئيسية › دليل الباحثين › J. Boch

J. Boch

الانتماء : Centre National de la Recherche Scientifique · Université de Montpellier · Institut d'Électronique et des Systèmes

• 4منشورات (انتماء فرنسي)
• 221مجموع المنشورات
• 1725الاستشهادات
• 24مؤشر h

ORCIDOpenAlex

مجالات البحث

• Radiation Effects in Electronics
• Particle Detector Development and Performance
• Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
• Radiation Therapy and Dosimetry
• Effects of Radiation Exposure

المنشورات (4)

• X-Ray Impact on Generation-Recombination Low-Frequency Noise Components for Advanced Si/SiGe:C HBTs
  2026 · Fluctuation and Noise Letters · استُشهد به 1 مرة
• Study of electrical and X-ray induced degradation in 55-nm BiCMOS SiGe heterojunction bipolar transistors
  2026 · Microelectronics Reliability
• Study of Electrical and X-ray induced degradation in BiCMOS 55-nm SiGe:C Heterojunction Bipolar Transistors
  2025 · HAL
• Effects of X-ray and Cobalt 60 irradiations on advanced Si/SiGe:C HBTs DC characteristics
  2023 · European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems · استُشهد به 2 مرة

مجلات النشر

• Fluctuation and Noise Letters × 1
• Microelectronics Reliability × 1
• HAL × 1
• European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems × 1

المنشورات حسب السنة

• 20262
• 20251
• 20231

التعاون العلمي

المؤسسات الشريكة : STMicroelectronics (France) · Larbi Ben M'hidi University of Oum El Bouaghi

بلدان المؤلفين المشاركين : الجزائر

المؤلفون المشاركون

• F. Pascal
• Daniel Gloria
• B. Sagnes
• A. Hoffmann
• Pascal Chevalier
• Tadec Maraine
• A. Adebabay Belie
• M. Bouhouche
• S. Haendler
• Olivier Occello
• J. El Beyrouthy

البيانات البيبليوغرافية مصدرها OpenAlex (قاعدة مفتوحة).