M. Berrabah

الانتماء : University Frères Mentouri Constantine 1

4منشورات (انتماء جزائري)
6مجموع المنشورات
20الاستشهادات
2مؤشر h

الملف البحثي

لدى M. Berrabah 4 منشور(ات) مفهرسة (2001–2008). تُنشر أعماله أساسًا في «Applied Surface Science»، «Semiconductor Science and Technology» و«Revue Sciences Humaines (Université des Frères Mentouri Constantine 1)». أكثر مقالاته استشهادًا هو «Deconvolution of SIMS depth profiles: Towards simple and faster techniques» (2008)، وقد استُشهد به 12 مرة. 2 من هذه المنشورات تعود إلى آخر ثلاث سنوات من النشاط. شارك في تأليف أعماله 7 باحثًا على الأقل.

هل هذا أنت؟ عرّف بأبحاثك

أنشئ ملفك على DzCademia مجانًا وأضف مقالاتك: ستظهر بسهولة أكبر على Google وفي مساعدي الذكاء الاصطناعي مثل ChatGPT، فيقرؤها ويستشهد بها عدد أكبر من الناس.

إنشاء ملفي المجاني إضافة منشوراتي

مجالات البحث

Semiconductor materials and devices
Semiconductor materials and interfaces
Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
Ion-surface interactions and analysis
Numerical methods in inverse problems

المنشورات (4)

Deconvolution of SIMS depth profiles: Towards simple and faster techniques
2008 · Applied Surface Science · استُشهد به 12 مرة
Treatment of LESIMS Depth Profiles: a Procedure for Eliminating the Roughness Effect
2006
Characterization of sub-micrometre silicon films (Si-LPCVD) heavilyin situboron-doped and submitted to treatments of dry oxidation
2002 · Semiconductor Science and Technology · استُشهد به 2 مرة
TRAITEMENT NUMERIQUE DES MESURES PAR SONDE IONIQUE. APPLICATION AUX SILICIURES
2001 · Revue Sciences Humaines (Université des Frères Mentouri Constantine 1)

مجلات النشر

Applied Surface Science × 1
Semiconductor Science and Technology × 1
Revue Sciences Humaines (Université des Frères Mentouri Constantine 1) × 1

المنشورات حسب السنة

20081
20061
20021
20011

التعاون العلمي

المؤسسات الشريكة : University Ferhat Abbas of Setif · Université Constantine 2

المؤلفون المشاركون

البيانات البيبليوغرافية مصدرها OpenAlex (قاعدة مفتوحة).