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M. Berrabah

Affiliation : University Frères Mentouri Constantine 1

  • 4Publications (affiliation algérienne)
  • 6Publications au total
  • 20Citations
  • 2Indice h

Profil de recherche

M. Berrabah compte 4 publications référencées (2001–2008). Ses travaux paraissent principalement dans « Applied Surface Science », « Semiconductor Science and Technology » et « Revue Sciences Humaines (Université des Frères Mentouri Constantine 1) ». Son article le plus cité, « Deconvolution of SIMS depth profiles: Towards simple and faster techniques » (2008), a été cité 12 fois. 2 de ces publications datent des trois dernières années d’activité. Ses travaux sont cosignés avec au moins 7 chercheurs.

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Domaines de recherche

  • Semiconductor materials and devices
  • Semiconductor materials and interfaces
  • Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
  • Ion-surface interactions and analysis
  • Numerical methods in inverse problems

Publications (4)

Revues de publication

  • Applied Surface Science × 1
  • Semiconductor Science and Technology × 1
  • Revue Sciences Humaines (Université des Frères Mentouri Constantine 1) × 1

Publications par année

  • 20081
  • 20061
  • 20021
  • 20011

Collaborations

Établissements partenaires : University Ferhat Abbas of Setif · Université Constantine 2

Co-auteurs

Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).

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