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M. Berrabah
Affiliation : University Frères Mentouri Constantine 1
- 4Publications (affiliation algérienne)
- 6Publications au total
- 20Citations
- 2Indice h
Profil de recherche
M. Berrabah compte 4 publications référencées (2001–2008). Ses travaux paraissent principalement dans « Applied Surface Science », « Semiconductor Science and Technology » et « Revue Sciences Humaines (Université des Frères Mentouri Constantine 1) ». Son article le plus cité, « Deconvolution of SIMS depth profiles: Towards simple and faster techniques » (2008), a été cité 12 fois. 2 de ces publications datent des trois dernières années d’activité. Ses travaux sont cosignés avec au moins 7 chercheurs.
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- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and interfaces
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Ion-surface interactions and analysis
- Numerical methods in inverse problems
Publications (4)
- Deconvolution of SIMS depth profiles: Towards simple and faster techniques
- Treatment of LESIMS Depth Profiles: a Procedure for Eliminating the Roughness Effect
- Characterization of sub-micrometre silicon films (Si-LPCVD) heavilyin situboron-doped and submitted to treatments of dry oxidation
- TRAITEMENT NUMERIQUE DES MESURES PAR SONDE IONIQUE. APPLICATION AUX SILICIURES
Revues de publication
- Applied Surface Science × 1
- Semiconductor Science and Technology × 1
- Revue Sciences Humaines (Université des Frères Mentouri Constantine 1) × 1
Publications par année
- 20081
- 20061
- 20021
- 20011
Collaborations
Établissements partenaires : University Ferhat Abbas of Setif · Université Constantine 2
Co-auteurs
Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).
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