الرئيسية › دليل الباحثين › Jason Thomas Ryan

Jason Thomas Ryan

الانتماء : National Institute of Standards and Technology

• 1منشورات (انتماء أمريكي)
• 112مجموع المنشورات
• 1116الاستشهادات
• 18مؤشر h

ORCIDOpenAlex

مجالات البحث

• Semiconductor materials and devices
• Semiconductor materials and interfaces
• Ferroelectric and Negative Capacitance Devices
• Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
• Quantum and electron transport phenomena

المنشورات (1)

• Modeling Early Breakdown Failures of Gate Oxide in SiC Power MOSFETs
  2016 · IEEE Transactions on Electron Devices · استُشهد به 94 مرة

المؤلفون المشاركون

• D.E. Ioannou
• Jason Paul Campbell
• Zakariae Chbili
• Kin P. Cheung
• Jaafar Chbili

البيانات البيبليوغرافية مصدرها OpenAlex (قاعدة مفتوحة).