C. Kim

الانتماء : SK Group (United States)

1منشورات (انتماء أمريكي)
4مجموع المنشورات
33الاستشهادات
3مؤشر h

الملف البحثي

لدى C. Kim 1 منشور(ات) مفهرسة (2020). تُنشر أعماله أساسًا في «IEEE Transactions on Device and Materials Reliability». أكثر مقالاته استشهادًا هو «Impact of Dimensions of Memory Periphery FinFETs on Bias Temperature Instability» (2020)، وقد استُشهد به 10 مرة. شارك في تأليف أعماله 2 باحثًا على الأقل.

هل هذا أنت؟ عرّف بأبحاثك

أنشئ ملفك على DzCademia مجانًا وأضف مقالاتك: ستظهر بسهولة أكبر على Google وفي مساعدي الذكاء الاصطناعي مثل ChatGPT، فيقرؤها ويستشهد بها عدد أكبر من الناس.

إنشاء ملفي المجاني إضافة منشوراتي

مجالات البحث

Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
Semiconductor materials and devices
Copper Interconnects and Reliability
Advanced Memory and Neural Computing
Ferroelectric and Negative Capacitance Devices

المنشورات (1)

Impact of Dimensions of Memory Periphery FinFETs on Bias Temperature Instability
2020 · IEEE Transactions on Device and Materials Reliability · استُشهد به 10 مرة

التعاون العلمي

المؤسسات الشريكة : Micron (United States)

المؤلفون المشاركون

البيانات البيبليوغرافية مصدرها OpenAlex (قاعدة مفتوحة).