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C. Kim

Affiliation : SK Group (United States)

1Publications (affiliation américaine)
4Publications au total
33Citations
3Indice h

Profil de recherche

C. Kim compte 1 publication référencée (2020). Ses travaux paraissent dans « IEEE Transactions on Device and Materials Reliability ». Son article le plus cité, « Impact of Dimensions of Memory Periphery FinFETs on Bias Temperature Instability » (2020), a été cité 10 fois. Ses travaux sont cosignés avec au moins 2 chercheurs.

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Domaines de recherche

Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
Semiconductor materials and devices
Copper Interconnects and Reliability
Advanced Memory and Neural Computing
Ferroelectric and Negative Capacitance Devices

Publications (1)

Impact of Dimensions of Memory Periphery FinFETs on Bias Temperature Instability
2020 · IEEE Transactions on Device and Materials Reliability · cité 10 fois

Collaborations

Établissements partenaires : Micron (United States)

Co-auteurs

Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).