الرئيسية › دليل الباحثين › R. Marrakh
R. Marrakh
الانتماء : Université Hassan II Mohammedia · University of Hassan II Casablanca
- 9منشورات (انتماء مغربي)
- 9مجموع المنشورات
- 21الاستشهادات
- 3مؤشر h
الملف البحثي
لدى R. Marrakh 9 منشور(ات) مفهرسة (1999–2003). تُنشر أعماله أساسًا في «Active and Passive Electronic Components»، «Microelectronics Journal» و«Microelectronics Reliability». أكثر مقالاته استشهادًا هو «Modeling of the threshold voltage variation for a stressed submicronic MOSFET» (2001)، وقد استُشهد به 6 مرة. 5 من هذه المنشورات تعود إلى آخر ثلاث سنوات من النشاط. شارك في تأليف أعماله 4 باحثًا على الأقل.
هل هذا أنت؟ عرّف بأبحاثك
أنشئ ملفك على DzCademia مجانًا وأضف مقالاتك: ستظهر بسهولة أكبر على Google وفي مساعدي الذكاء الاصطناعي مثل ChatGPT، فيقرؤها ويستشهد بها عدد أكبر من الناس.
إنشاء ملفي المجاني إضافة منشوراتيمجالات البحث
- Semiconductor materials and devices
- Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
- Semiconductor materials and interfaces
- Silicon Carbide Semiconductor Technologies
- Low-power high-performance VLSI design
المنشورات (9)
- Modeling of the spectral response of PIN photodetectors Impact of exposed zone thickness, surface recombination velocity and trap concentration
- Influence of the defects on the I-V characteristics for LDD-nMOSFETs
- Modeling of the I–V Characteristics for LDD‐nMOSFETs in Relation with Defects Induced by Hot‐Carrier Injection
- Modeling of the threshold voltage variation for a stressed submicronic MOSFET
- Impact of the Stress on the Sub‐Micron N‐Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor Characteristics
- Modeling of Interface Defect Distribution for an n‐MOSFETs Under Hot‐Carrier Stressing
- Modeling of Surface Potential and Threshold Voltage of LDD nMOSFET′s with Localized Defects
- Modelling of the surface potential evolution for a stressed submicronic MOSFET
- Effect of defects localised in the oxide of submicrometer NMOS transistor on substrate and drain currents
مجلات النشر
- Active and Passive Electronic Components × 4
- Microelectronics Journal × 2
- Microelectronics Reliability × 1
- International Conference on Microelectronics (ICM) × 1
المنشورات حسب السنة
- 20032
- 20021
- 20012
- 20003
- 19991
المؤلفون المشاركون
البيانات البيبليوغرافية مصدرها OpenAlex (قاعدة مفتوحة).
لماذا تختارون Dzcademia؟
ملفات أكاديمية ومقالات ومداخلات علمية: امنحوا أبحاثكم حضوراً عاماً منظماً. تساعد البيانات الوصفية المدمجة محركات البحث ومساعدات الذكاء الاصطناعي على التعرف على أعمالكم وفهم مراجعها.
علّق عبر Google
سجّل الدخول عبر Google للتعليق مباشرة على هذه الصفحة.