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M. Bouhouche
Affiliation : Larbi Ben M'hidi University of Oum El Bouaghi
- 6Publications (affiliation algérienne)
- 13Publications au total
- 9Citations
- 2Indice h
Profil de recherche
M. Bouhouche compte 6 publications référencées (2009–2026). Ses travaux paraissent principalement dans « Fluctuation and Noise Letters », « Microelectronics Reliability » et « HAL ». Son article le plus cité, « Effects of X-ray and Cobalt 60 irradiations on advanced Si/SiGe:C HBTs DC characteristics » (2023), a été cité 2 fois. 3 de ces publications datent des trois dernières années d’activité. Ses travaux sont cosignés avec au moins 3 chercheurs, notamment dans des établissements de France.
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- Radiation Effects in Electronics
- Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
- Particle Detector Development and Performance
- Semiconductor materials and devices
- Silicon Carbide Semiconductor Technologies
Publications (6)
- X-Ray Impact on Generation-Recombination Low-Frequency Noise Components for Advanced Si/SiGe:C HBTs
- Study of electrical and X-ray induced degradation in 55-nm BiCMOS SiGe heterojunction bipolar transistors
- Study of Electrical and X-ray induced degradation in BiCMOS 55-nm SiGe:C Heterojunction Bipolar Transistors
- Effects of X-ray and Cobalt 60 irradiations on advanced Si/SiGe:C HBTs DC characteristics
- Phase noise modeling in LC oscillators implemented in SiGe technology
- Effect of Implantation Defects and Carbon Incorporation on Si/SiGe Bipolar Characteristics
Revues de publication
- Fluctuation and Noise Letters × 1
- Microelectronics Reliability × 1
- HAL × 1
- European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems × 1
- Journal of Semiconductors × 1
- International Conference on Computer and Electrical Engineering × 1
Publications par année
- 20262
- 20251
- 20231
- 20131
- 20091
Collaborations
Établissements partenaires : Institut d'Électronique et des Systèmes · Centre National de la Recherche Scientifique · Université de Montpellier · STMicroelectronics (France) · University Frères Mentouri Constantine 1
Pays des co-auteurs : France
Co-auteurs
Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).
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