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Accueil › Annuaire des chercheurs › M. Adnane

M. Adnane

Affiliation : Université des Sciences et de la Technologie d'Oran Mohamed Boudiaf

  • 46Publications (affiliation algérienne)
  • 55Publications au total
  • 749Citations
  • 15Indice h

Profil de recherche

M. Adnane compte 46 publications référencées (2000–2026). Ses travaux paraissent principalement dans « Journal of Nano- and Electronic Physics », « The European Physical Journal Applied Physics » et « Russian Journal of Physical Chemistry B ». Son article le plus cité, « Thickness dependence of structural, electrical and optical behaviour of undoped ZnO thin films » (2008), a été cité 146 fois. 12 de ces publications datent des trois dernières années d’activité. Ses travaux sont cosignés avec au moins 12 chercheurs, notamment dans des établissements de France, Corée du Sud, Japon.

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Domaines de recherche

  • Chalcogenide Semiconductor Thin Films
  • ZnO doping and properties
  • Thin-Film Transistor Technologies
  • Advanced Materials and Semiconductor Technologies
  • TiO2 Photocatalysis and Solar Cells

Publications (46)

Revues de publication

  • Journal of Nano- and Electronic Physics × 4
  • The European Physical Journal Applied Physics × 3
  • Russian Journal of Physical Chemistry B × 2
  • Journal of Optics × 2
  • Semiconductors × 2
  • Springer proceedings in energy × 2

Publications par année

  • 20261
  • 20255
  • 20246
  • 20234
  • 20224
  • 20213
  • 20207
  • 20192
  • 20181
  • 20171

Collaborations

Établissements partenaires : Centre de Recherche en Technologie des Semi-conducteurs pour l’Energétique · Research Center in Industrial Technologies · Centre de Recherche Nucléaire d’Alger · Université de Mostaganem · Université de Bourgogne

Pays des co-auteurs : France · Corée du Sud · Japon

Co-auteurs

Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).

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