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D. Raiser

Affiliation : Centre National de la Recherche Scientifique · Institut Pluridisciplinaire Hubert Curien · Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules

• 2Publications (affiliation française)
• 17Publications au total
• 308Citations
• 6Indice h

OpenAlex

Profil de recherche

D. Raiser compte 2 publications référencées (2000–2008). Ses travaux paraissent principalement dans « Applied Radiation and Isotopes » et « Applied Surface Science ». Son article le plus cité, « Behaviour of copper atoms in annealed Cu/SiOx/Si systems » (2000), a été cité 46 fois. Ses travaux sont cosignés avec au moins 6 chercheurs.

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Domaines de recherche

• Semiconductor materials and interfaces
• Surface and Thin Film Phenomena
• Semiconductor materials and devices
• Metal and Thin Film Mechanics
• Ion-surface interactions and analysis

Publications (2)

• Experimental characterization and Monte Carlo simulation of Si(Li) detector efficiency by radioactive sources and PIXE
  2008 · Applied Radiation and Isotopes · cité 11 fois
• Behaviour of copper atoms in annealed Cu/SiOx/Si systems
  2000 · Applied Surface Science · cité 46 fois

Revues de publication

• Applied Radiation and Isotopes × 1
• Applied Surface Science × 1

Publications par année

• 20081
• 20001

Collaborations

Établissements partenaires : Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg

Co-auteurs

• Mohammed Reda Mesradi
• A. Sellam
• Jaques Faerber
• A. Nourreddine
• A. Pape
• A. Mosser

Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).