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Hafida Sehil
Affiliation : Université Djilali de Sidi Bel Abbès
- 13Publications (affiliation algérienne)
- 19Publications au total
- 92Citations
- 5Indice h
Profil de recherche
Hafida Sehil compte 13 publications référencées (1994–2014). Ses travaux paraissent principalement dans « Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena », « Solid-State Electronics » et « Materials Science and Engineering B ». Son article le plus cité, « Lead removal kinetics from synthetic effluents using Algerian pine, beech and fir sawdust’s: optimization and adsorption mechanism » (2014), a été cité 34 fois. Ses travaux sont cosignés avec au moins 12 chercheurs.
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- Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
- Thin-Film Transistor Technologies
- Organic Electronics and Photovoltaics
- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and interfaces
Publications (13)
- Lead removal kinetics from synthetic effluents using Algerian pine, beech and fir sawdust’s: optimization and adsorption mechanism
- 3-aminopyridine release study from polymeric supports in homogeneous and heterogeneous media
- Accumulation Mode in Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors
- Numerical Modeling and Simulation of Output Parameters in Poly-Si Homojunction nip (or pin) Solar Cells
- Study of lateral polysilicon PN diodes C–V characteristics: Modeling and experiments
- Simulation of the high frequency C–V characteristics of lateral PN junctions on polysilicon films
- Characterization of the polysilicon thin film transistors elaborated in high and low temperature processes. Study of the density of traps
- A MOS structure temperature characterization
- Effects of the in-situ drain doping on hot-carrier degradation in polysilicon thin film transistors
- Conduction behaviour of low-temperature (≤600°C) polysilicon TFTs with an in situ drain doping level
- The analysis of the leakage current of polycrystalline silicon thin-film transistors as a function of active layer thickness
- Influence of the Polysilicon Film Structure on the Capacitance Voltage Characteristics of Thin Film Transistors
- Characterization of the M. O. S. Structure by the Surface Photoelectrical Voltage Method
Revues de publication
- Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena × 3
- Solid-State Electronics × 3
- Materials Science and Engineering B × 2
- Applied Water Science × 1
- Mediterranean Journal of Chemistry × 1
- Synthetic Metals × 1
Publications par année
- 20141
- 20111
- 20012
- 19981
- 19973
- 19961
- 19952
- 19942
Co-auteurs
- Z. Benamara
- R. Menezla
- Baya Zebentout
- Negin Rahmani
- Zineb Elbahri
- Zohra Bengharez
- Boudali Akkal
- A. Boudissa
- Houaria Merine
- Y. Bourezig
- H. Dib
- Kaddour Guemra
Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).
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