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A. Hoffmann
Affiliation : Centre National de la Recherche Scientifique · Université de Montpellier · Institut d'Électronique et des Systèmes
- 10Publications (affiliation française)
- 105Publications au total
- 1008Citations
- 15Indice h
Profil de recherche
A. Hoffmann compte 10 publications référencées (2000–2026). Ses travaux paraissent principalement dans « Solid-State Electronics », « Fluctuation and Noise Letters » et « Microelectronics Reliability ». Son article le plus cité, « A new method for evaluating illuminated solar cell parameters » (2001), a été cité 168 fois. 3 de ces publications datent des trois dernières années d’activité. Ses travaux sont cosignés avec au moins 12 chercheurs, notamment dans des établissements de Algérie.
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- Semiconductor materials and devices
- Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
- Radiation Effects in Electronics
- Particle Detector Development and Performance
- Silicon Carbide Semiconductor Technologies
Publications (10)
- X-Ray Impact on Generation-Recombination Low-Frequency Noise Components for Advanced Si/SiGe:C HBTs
- Study of electrical and X-ray induced degradation in 55-nm BiCMOS SiGe heterojunction bipolar transistors
- Study of Electrical and X-ray induced degradation in BiCMOS 55-nm SiGe:C Heterojunction Bipolar Transistors
- Effects of X-ray and Cobalt 60 irradiations on advanced Si/SiGe:C HBTs DC characteristics
- Analysis of electroluminescence spectra of silicon and gallium arsenide p–n junctions in avalanche breakdown
- Extraction of Schottky diode parameters including parallel conductance using a vertical optimization method
- Simulation of gallium arsenide electroluminescence spectra in avalanche breakdown using self-absorption and recombination models
- Effects of adding an SiO/sub 2/ film to the rear metal/semiconductor interface on the performance of a conventional solar cell based on n/sup +/p silicon
- A new method for evaluating illuminated solar cell parameters
- La Jonction du Solaire à la Microélectronique
Revues de publication
- Solid-State Electronics × 2
- Fluctuation and Noise Letters × 1
- Microelectronics Reliability × 1
- HAL × 1
- European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems × 1
- Journal of Applied Physics × 1
Publications par année
- 20262
- 20251
- 20231
- 20041
- 20023
- 20011
- 20001
Collaborations
Établissements partenaires : STMicroelectronics (France) · Université Paul Verlaine - Metz · Supélec · Larbi Ben M'hidi University of Oum El Bouaghi · Laboratoire Matériaux, Optique, Photonique et Systèmes
Pays des co-auteurs : Algérie
Co-auteurs
- F. Pascal
- Jean‐Pierre Charles
- Daniel Gloria
- B. Sagnes
- J. Boch
- Pascal Chevalier
- Tadec Maraine
- A. Adebabay Belie
- M. Bouhouche
- S. Haendler
- Olivier Occello
- A. Bath
Données bibliographiques issues d’OpenAlex (base ouverte).
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